标准编号 标准名称
SJ 1.1-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  电子工业标准年度计划编制工作的主要程序和要求
SJ 1.2-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  调整标准编制计划的原则和程序
SJ 1.3-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  编制电子工业技术标准主办单位责任制
SJ 1.4-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  电子工业技术标准编制计划实施阶段划分及要求
SJ 1.5-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  标准草案(送审稿)函审程序
SJ 1.6-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  电子工业技术标准报批程序和规定
SJ 1.7-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  标准草案(报批稿)报批时资料齐套性要求
SJ 1.8-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  标准草案编写时应遵循的要求
SJ 1.9-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求  标准草案(报批稿)报批审查时退稿的原则和程序
SJ 1.10-87 电子工业技术标准制修订工作有关规范和要求 标准草案(送审稿)审定会会议纪要(或审定结论)的主要内容
SJ 1.11-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案(报批稿)报批报告的内容
SJ 1.12-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 对专业标准化技术委员会审查标准草案(报批稿)的要求
SJ 26-79 小功率电子管寿命试验方法
SJ 30-84 半导体管调幅广播收音机分类与基本参数
SJ/T 37-96 电子工业专用设备型号编制及命名方法
SJ/Z 44-64 电镀和化学涂覆典型工艺过程
SJ 42-77 金属镀层和化学处理层的分类、特性、应用范围和标记
SJ/Z 44-64(附件) 电镀溶液分析方法
SJ 46-65 φ200mm电磁式扬声器技术条件
SJ 91-86 DH型信号灯盒
SJ 92-86 BH型熔断器盒
SJ 94-78 CA型矩形插头座
SJ 96-65 CB2型矩形插头座
SJ 97-65 变压器和阻流圈用小型铁芯片
SJ 99-87 变压器和扼流圈用铁心片及铁心叠厚系列
SJ 119-86 中心安装的KX01型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径55毫米
SJ 738-86 中心安装的KX03型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径40毫米
SJ 739-86 中心安装的KX04形旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径30毫米
SJ 740-86 中心安装的KX05型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径25毫米
SJ 2687-86 中心安装的KX06型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径16毫米
SJ 2688-86 中心安装的KX07型10位通转片式开关(低电负荷)  最大直径25毫米
SJ 2689-86 中心安装的KX10型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径55毫米
SJ 2690-86 中心安装的KX11型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径55毫米
SJ 2691-86 中心安装、双孔定位的KX13型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径42毫米
SJ 2692-86 中心安装的KX14型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径30毫米
SJ 2693-86 中心安装的KX15型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径25毫米
SJ 2694-86 中心安装的KX17型旋转片式开关(低电负荷)  最多12位、最大直径30毫米
SJ/T 142-96 电子工业专用设备通用规范
SJ/T 143-96 被银陶瓷零件
SJ 151A-84 电子设备用继电器规格号标志方法
SJ 152-75 电子计算机型号命名方法
SJ 1230-77 锗检波二极管高频整流电流的测试方法
SJ 198-80 计数管总技术条件
SJ 202-81 印制板通用技术要求和试验方法
SJ/T 211.3-96 电子工业专用设备设计文件  第3部分：设计文件的格式
SJ/T 211.4-96 电子工业专用设备设计文件  第4部分：设计文件的编制
SJ/T 207.1-1999 设计文件的管理制度  第一部分  设计文件的分类和组成
SJ/T 207.2-1999 设计文件的管理制度  第二部分  设计文件的格式
SJ/T 207.3-1999 设计文件的管理制度  第三部分  文字内容和表格形式设计文件的编制方法
SJ/T 211.1-96 电子工业专用设备设计文件  第1部分：设计文件的完整性
SJ/T 211.2-96 电子工业专用设备设计文件  第2部分：图样的标题栏、附加栏和明细栏
SJ/T 211.6-1999 电子工业专用设备设计文件  第6部分：设计文件的更改
SJ 280-80 电子设备车辆通用技术条件
SJ 261-66 双极型插头和插座
SJ 295-72 手摇发电机型号命名方法
SJ 298-72 CD1型矩形插头座
SJ 324-72 钼片
SJ/Z 330-72 镀镍铁带镍层厚度的金相测定法
SJ 332-73 高可靠姆指式(超小型)收讯放大管总技术条件
SJ 338-73 高压整流管总技术条件
SJ 343-73 微波气体放电管总技术条件
SJ 344-73 低噪声行波管总技术条件
SJ 345-73 功率行波管总技术条件
SJ 346-73 “O”型返波管总技术条件
SJ 347-73 反射速调管总技术条件
SJ 362-73 反射速调管测试条件
SJ 363-73 反射速调管反射极总电流、反射极离子流、反射极漏电流的测试方法
SJ 364-73 反射速调管阴极电流的测试方法
SJ 365-73 反射速调管灯丝电压改变时阴极电流变化率的测试方法
SJ 366-73 反射速调管各极间漏电流的测试方法
SJ 367-73 反射速调管输出功率的测试方法
SJ 368-73 反射速调管功率波动比的测试方法
SJ 369-73 反射速调管振荡频率的测试方法
SJ 370-73 反射速调管电子调谐范围的测试方法
SJ 371-73 反射速调管抗负载变化特性的测试方法
SJ 372-73 反射速调管电子调谐斜率的测试方法
SJ 373-73 反射速调管频率牵引的测试方法
SJ 374-73 反射速调管负载特性的测试方法
SJ 375-73 反射速调管脉冲调制特性的测试方法
SJ 376-73 反射速调管电子滞后的测试方法
SJ 377-73 反射速调管频率漂移系数的测试方法
SJ 378-73 反射速调管稳定频率建立时间的测试方法
SJ 379-73 反射速调管频率漂移的测试方法
SJ 380-73 反射速调管频率稳定特性的测试方法
SJ 381-73 反射速调管频率温度系数的测试方法
SJ 382-73 反射速调管频率的可重调性的测试方法
SJ 419-73 低噪声行波管测试条件
SJ 420-73 低噪声行波管各极电压和电流的测试方法
SJ 421-73 低噪声行波管末阳极与各极间的漏电电流的测试方法
SJ 422-73 低噪声行波管阴极预热时间的测试方法
SJ 423-73 低噪声行波管匹配特性的测试方法
SJ 424-73 低噪声行波管冷衰减量的测试方法
SJ 425-73 低噪声行波管功率增益的测试方法
SJ 426-73 低噪声行波管噪声系数的测试方法
SJ 427-73 低噪声行波管动态范围的测试方法
SJ 428-73 低噪声行波管带宽的测试方法
SJ 429-73 低噪声行波管工作频率范围的测试方法
SJ 430-73 “O”型返波管测试条件
SJ 431-73 “O”型返波管各极电压和电流的测试方法
SJ 432-73 “O”型返波管阴极预热时间的测试方法
SJ 433-73 “O”型返波管匹配特性的测试方法
SJ 434-73 “O”型返波管功率－电压特性的测试方法
SJ 435-73 “O”型返波管频率－电压特性的测试方法
SJ 436-73 “O”型返波管频率推移系数的测试方法
SJ 437-73 “O”型返波管频率牵引的测试方法
SJ 438-73 “O”型返波管寄生振荡信噪比的测试方法
SJ 439-73 “O”型返波管最大起振电流的测试方法
SJ 440-73 “O”型返波管截止栅压的测试方法
SJ 441-73 “O”型返波管工作频率范围的测试方法
SJ 442-73 高压整流管测试方法
SJ 443-73 高压整流管阴极加热时间的测试方法
SJ 444-73 高压整流管阳极电流与欠热时阳极电流的测试方法
SJ 445-73 高压整流管阴极脉冲放射电流和欠热阴极脉冲放射电流的测试方法
SJ 446-73 高压整流管管压降与欠热管压降的测试方法
SJ 447-73 高压整流管脉冲管压降与欠热脉冲管压降的测试方法
SJ 448-73 高压整流管静态特性曲线的测试方法
SJ 449-73 高压整流管耐压试验的测试方法
SJ 450-73 高压整流管阳极耗散功率的测试方法
SJ 451-73 高压整流管整流强度的测试方法
SJ 452-73 高压整流管反向电流的测试方法
SJ 453-73 高压整流管整流电流脉动峰值的测试方法
SJ 454-73 高压整流管峰值管压降、反向峰值管压降和整流电流的测试方法
SJ 455-73 高压整流管静态极间电容的测试方法
SJ 650-80 CCW3型圆片形微调瓷介电容器
SJ 659-81 CH81型高压密封复合介质电容器
SJ 660-73 CH82型高压密封复合介质电容器
SJ/Z 730-73 电子束管系列型谱
SJ/Z 731-73 光电倍增管系列型谱
SJ/Z 732-73 充气管系列型谱
SJ/Z 733-73 X射线管系列型谱
SJ/Z 734-73 收讯放大管系列型谱
SJ/Z 736-73 静电控制发射管系列型谱
SJ 737-83 旋转片式开关(低电负荷)总技术条件
SJ 747-73 弹性钢丝挡圈
SJ 748-73 定位挡圈
SJ 752-73 定位销
SJ 755-73 碱性铁镍单体蓄电池
SJ 756-73 2TN10碱性蓄电池组
SJ 765-74 3DD50型和3DD51型NPN硅外延平面低频大功率三极管
SJ 766-74 3DD52型NPN硅合金扩散低频大功率三极管
SJ 767-74 3DD53型和3DD54型NPN型硅外延平面低频大功率三极管
SJ 768-74 3DD55型NPN硅合金扩散低频大功率三极管
SJ 769-74 3DD56型和3DD57型NPN硅外延平面低频大功率三极管
SJ 770-74 3DD58型NPN硅合金扩散低频大功率三极管
SJ 771-74 3DD59型和3DD60型NPN硅外延平面低频大功率三极管
SJ 772-74 3DD61型NPN硅合金扩散低频大功率三极管
SJ 773-74 3DD62型和3DD63型NPN硅外延平面低频大功率三极管
SJ 774-74 3DD64型NPN硅合金扩散低频大功率三极管
SJ 775-74 3DD65型和3DD66型NPN硅外延平面低频大功率三极管
SJ 776-74 3DD67型NPN硅合金扩散低频大功率三极管
SJ 777-74 3DD68型和3DD69型NPN硅外延平面低频大功率三极管
SJ 778-74 3DD70型NPN硅合金扩散低频大功率三极管
SJ 779-74 3DD71型NPN硅外延平面低频大功率三极管
SJ 780-74 3DD72型NPN硅合金扩散低频大功率三极管
SJ 781-74 3DD73型NPN硅外延平面低频大功率三极管
SJ 782-74 3DG100型NPN硅平面高频小功率三极管
SJ 783-74 3DG101型NPN硅外延平面高频小功率三极管
SJ 784-74 3DG102型NPN硅外延平面高频小功率三极管
SJ 785-74 3DG103型NPN硅外延平面高频小功率三极管
SJ 786-74 3DG110型NPN硅平面高频小功率三极管
SJ 787-74 3DG111型NPN硅外延平面高频小功率三极管
SJ 788-74 3DG112型NPN硅外延平面高频小功率三极管
SJ 789-74 3DG120型NPN硅外延平面高频小功率三极管
SJ 790-74 3DG121型NPN硅外延平面高频小功率三极管
SJ 791-74 3DG122型NPN硅外延平面高频小功率三极管
SJ 794-74 3DG141型NPN硅外延平面高频小功率低噪声三极管
SJ 795-74 3DG142型NPN硅外延平面高频小功率低噪声三极管
SJ 796-74 3DG160型NPN硅平面高频小功率高反压三极管
SJ 797-74 3DG161型NPN硅平面高频小功率高反压三极管
SJ 799-74 3DG170型NPN硅外延平面高频小功率高反压三极管
SJ 800-74 3DG180型NPN硅外延平面高频小功率高反压三极管
SJ 801-74 3DG181型NPN硅外延平面高频小功率高反压三极管
SJ 811-74 辉光放电计数管起辉电压的测试方法
SJ 812-74 辉光放电计数管暗室起辉电压的测试方法
SJ 813-74 辉光放电计数管管压降的测试方法
SJ 814-74 辉光放电计数管正弦工作状态的测试方法
SJ 815-74 辉光放电计数管脉冲工作状态的测试方法
SJ 816-74 辉光放电计数管复位性能的测试方法
SJ 861-74 真空电阻炉基本参数系列
SJ 862-74 氢气电阻炉基本参数系列
SJ/Z 863-80 振动、碰撞、冲击、恒加速度试验设备系列型谱
SJ 864-74 FU－5(M)型发射管
SJ 871-74 WY－2P型辉光放电稳压管
SJ 872-74 WY－3P型辉光放电稳压管
SJ 873-74 WY－4P型辉光放电稳压管
SJ 907-74 LG1和LG2型固定电感器
SJ 909-74 2CW50～149型硅半导体稳压二极管
SJ 910-74 3DW50～202型硅半导体稳压二极管
SJ 911-74 2DW230～236型硅平面温度补偿稳压二极管
SJ 933-75 半导体调幅广播收音机用输出输入变压器
SJ 934-75 3DD100型硅NPN低频高反压大功率三极管
SJ 935-75 3DD101、3DD102型硅NPN低频高反压大功率三极管
SJ 936-75 3DD103、3DD104型硅NPN低频高反压大功率三极管
SJ 946-83 电子测量仪器电气、机械结构基本要求
SJ 948-84 黑白电视广播接收机分类与基本参数
SJ 966-75 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 973-85 L27型射频连接器
SJ 979-75 6P13P型(M)电子管
SJ 980-75 RX－21型微波气体放电管
SJ 984-75 13SJ38型示波管
SJ 986-75 15XYG45碱性蓄电池组
SJ 987-75 双动冲床引伸模  落料引伸模
SJ 988-75 双动冲床引伸模  首次引伸模
SJ 989-75 双动冲床引伸模  以后各次引伸模
SJ 990-75 双动冲床引伸模  上托
SJ 991-75 双动冲床引伸模  底座
SJ 992-75 双动冲床引伸模  垫板
SJ 993-75 双动冲床引伸模  固定板定位板
SJ 994-75 双动冲床引伸模  卸料板
SJ 995-75 双动冲床引伸模  落料凹模  引伸凹模
SJ 996-75 双动冲床引伸模  螺纹冲头把
SJ 997-75 双动冲床引伸模  冲头把
SJ 998-75 双动冲床引伸模  冲头把
SJ 999-75 双动冲床引伸模  落料凸模
SJ 1000-75 双动冲床引伸模  引伸凸模
SJ 1001-75 双动冲床引伸模  首次引伸压边圈
SJ 1002-75 双动冲床引伸模  以后各次引伸压边圈
SJ 1003-75 双动冲床引伸模  通用模架
SJ 1004-75 双动冲床引伸模  上托
SJ 1005-75 双动冲床引伸模  底座
SJ 1006-75 双动冲床引伸模  下压板
SJ 1007-75 双动冲床引伸模  上压板
SJ 1008-75 双动冲床引伸模  螺钉
SJ 1009-75 手柄翻开式钻模  模架
SJ 1010-75 手柄翻开式钻模  钻模板
SJ 1011-75 手柄翻开式钻模  压板
SJ 1012-75 手柄翻开式钻模  搭扣
SJ 1013-75 手柄翻开式钻模  导柱
SJ 1014-75 手柄翻开式钻模  钻脚
SJ 1015-75 手柄翻开式钻模  支柱
SJ 1016-75 手柄翻开式钻模  支架
SJ 1017-75 手柄翻开式钻模  钻套
SJ 1018-75 CA30型管状非固体电解质烧结钽电容器
SJ 1023-76 FU－81型电子管
SJ 1035-76 23SX5B型显像管
SJ 1036-76 B－1型低噪声行波管
SJ 1041-82 CBM-202B型双联薄膜介质可变电容器
SJ 1051-76 K－19型反射速调管
SJ 1052-76 K－20型反射速调管
SJ 1053-76 K－27型反射速调管
SJ 1055-76 CKM－30型脉冲磁控管
SJ 1056-76 CKM－99型脉冲磁控管
SJ/Z 1081-76 电镀溶液分析方法的一般要求
SJ/Z 1082-76 镀镍溶液典型分析方法
SJ/Z 1083-76 镀铬溶液典型分析方法
SJ/Z 1084-76 镀铜溶液典型分析方法
SJ/Z 1085-76 镀锌溶液典型分析方法
SJ/Z 1086-76 镀镉溶液典型分析方法
SJ/Z 1087-76 镀锡溶液典型分析方法
SJ/Z 1088-76 氧化镀银溶液典型分析方法
SJ/Z 1089-76 镀金溶液典型分析方法
SJ/Z 1090-76 镀铂溶液典型分析方法
SJ/Z 1091-76 镀钯溶液典型分析方法
SJ/Z 1092-76 镀铑溶液典型分析方法
SJ/Z 1093-76 氰化镀铜锌合金(黄铜)溶液典型分析方法
SJ/Z 1094-76 氰化镀铜锡合金溶液典型分析方法
SJ/Z 1095-76 镀铅锡合金溶液典型分析方法
SJ/Z 1096-76 合金镀层的典型分析方法
SJ/Z 1097-76 其他溶液的典型分析方法
SJ 1102-76 反向阻断型普通半导体闸流管(普通可控整流器)
SJ 1120-76 FU－7型(M)电子管
SJ 1121-76 FU－7型(J)电子管
SJ/Z 1122-76 荧光数字符号指示管系列型谱
SJ 1123-76 QS30－1型辉光放电数字管
SJ 1129-77 扬声器系统电声参数测试方法(暂行)
SJ 1130-77 2DL51～56、2CL51～56型硅高压整流堆
SJ 1143-77 B－101型低噪声行波管
SJ/T 1145-93 电容器用有机薄膜电性能试验方法通则
SJ/T 1146-93 电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法
SJ/T 1148-93 电容器用有机薄膜击穿强度试验方法
SJ 1152-77 粮食温度电子测量仪器技术条件
SJ/T 1147-93 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
SJ 1158-77 MF11型普通用负温度系数热敏电阻器
SJ 1159-77 MF12型普通用负温度系数热敏电阻器
SJ 1160-77 MF13型普通负温度系数热敏电阻器
SJ 1161-77 MF14型普通用负温度系数热敏电阻器
SJ 1162-77 MF15型普通用负温度系数热敏电阻器
SJ 1163-77 MF16型普通用负温度系数热敏电阻器
SJ 1165-77 阴极射线荧光粉  Y6荧光粉
SJ 1168-77 阴极射线荧光粉  Y12荧光粉
SJ/Z 1171-77 电镀溶液极化曲线的测试方法
SJ/Z 1172-77 电镀溶液分散能力的测定方法
SJ/Z 1173-77 电镀溶液电流效率的测定方法
SJ 1185-77 彩色电视测量测试卡(CT752卡)(暂行)
SJ 1225-77 2AP11～2AP17型锗检波二极管
SJ 1226-77 2AP9～2AP10型锗检波二极管
SJ 1227-77 2AP1～2AP8、2AP21和2AP27型锗检波二极管
SJ 1228-77 2AP30～2AP31型锗宽带检波二极管
SJ 1229-77 2AK1～20型锗开关二极管
SJ 1241-77 纸介电容器总技术条件
SJ 1247-77 CZ40型密封纸介电容器
SJ 1248-77 CZ41型密封纸介电容器
SJ 1249-77 CZ82型高压密封纸介电容器
SJ 1263-77 单相变压器用XED、XCD型C形铁芯
SJ 1267-77 半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法
SJ 1269-77 FBJ型通心玻璃粉绝缘子
SJ 1270-77 通心玻璃绝缘子
SJ 1274-77 金刚石拉丝模
SJ 1276-77 金属镀层和化学处理层质量检验技术要求
SJ 1277-77 金属镀层和化学处理层质量检验验收规则
SJ 1278-77 金属镀层和化学处理层外表的检验方法
SJ 1279-77 金属镀层硬度的检验方法
SJ 1280-77 金属镀层孔隙率的检验方法
SJ 1281-77 金属镀层和化学处理层厚度的检验方法
SJ 1282-77 金属镀层结合力的检验方法
SJ 1283-77 金属镀层和化学处理层腐蚀试验方法
SJ 1284-77 金属镀层腐蚀试验结果评定方法
SJ 1285-77 铝和铝合金氧化处理层电气绝缘性能的测试方法
SJ 2028-82 直热式正温度系数热敏电阻器总技术条件
SJ 2028.1-83 MZ11型补偿用正温度系数热敏电阻器
SJ 2028.2-83 MZ61型控温用正温度系数热敏电阻器
SJ 2029-82 可见光光敏电阻器总技术条件
SJ 2030-82 MG41型密封硫化镉光敏电阻器
SJ 2031-82 MG42型密封硫化镉光敏电阻器
SJ 2052-82 30兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法－传输法
SJ 2053-82 石英谐振器寄生响应测量方法
SJ 2056-82 号筒式电动扬声器技术条件
SJ 2057-82 号筒式电动扬声器功率系列及基本参数
SJ 2065-82 半导体器件生产用扩散炉测试方法
SJ 2066-82 小模数渐开线圆柱齿轮通用技术条件
SJ/Z 2067-82 电子工业专用设备锻件通用技术要求
SJ/Z 2068-82 电子工业专用设备金属焊接通用技术要求
SJ 2070-82 CY401型印制电路插座
SJ 2072-82 半导体管电视机中频变压器及收音机短波振荡线圈磁芯
SJ 2073-82 半导体管收音机中频变压器及振荡线圈磁芯
SJ 2081-82 干簧管总技术条件
SJ/Z 2082-82 永磁直流力矩电动机用稀土钴永磁体
SJ 2085-82 聚氯乙烯绝缘安装软线
SJ 2086-82 聚氯乙烯绝缘安装线
SJ 2569-85 声表面波滤波器术语和定义
SJ 2570-85 声表面波滤波器性能测试方法
 
SJ 2089-82 电子测量仪器型号命名方法
SJ/Z 2091-82 信息处理交换用七位编码字符集  键盘的常用控制键、功能键的排列和接口
SJ 2092-82 CS35型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2093-82 CS36型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2094-82 CS37型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2095-82 CS38型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2096-82 CS39型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2097-82 CS40型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2098-82 CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2099-82 CS42型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2100-82 CS43型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2101-82 CS44型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2102-82 CS45型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2103-82 CS46型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2104-82 CS47型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2105-82 CS48型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2106-82 CS49型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2107-82 CS50型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2108-82 CS51型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2109-82 CKM-29B、CKM-29C、CKM-29D、CKM-29E、CKM-29F、CKM-29G型脉冲磁控管
SJ 2112-82 厅堂扩声系统设备互联的优选电气配接值
SJ 2124-82 弹性管联轴节
SJ 2125-82 十字滑块联轴节
SJ 2126-82 波纹管联轴节
SJ 2127-82 薄膜联轴节
SJ 2130-82 电子束管屏内刻度
SJ 2131-82 洁净工作台通用技术条件
SJ 2133-82 氧化物阴极加速寿命试验方法
SJ 2137-82 硅稳流二极管测试方法总则
SJ 2138-82 硅稳流二极管稳定电流的测试方法
SJ 2139-82 硅稳流二极管动态阻抗的测试方法
SJ 2140-82 硅稳流二极管极限电压的测试方法
SJ 2141-82 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
SJ 2142-82 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法
SJ 2148-82 硅稳流三极管动态阻抗的测试方法
SJ 2152-82 烧结含油轴承
SJ 2154-82 薄膜集成电路用微晶玻璃基片
SJ/Z 2165-82 单相C型铁芯电源变压器和滤波阻流圈典型计算
SJ 2168-82 涂覆用环氧粉末
SJ 2170-82 一般电子产品运输包装基本试验方法  总则
SJ 2176-82 电子产品防潮包装容器透湿度试验方法
SJ 2179-82 压电滤波器术语和定义
SJ 2182-82 压电滤波器总技术条件
SJ 2193-82 整流滤波阻流圈电气参数系列
SJ 2194-82 CDL－100／C型C型铁芯滤波阻流圈(电容输入式)
SJ 2195-82 CDL－100／L型C型铁芯滤波阻流圈(电感输入式)
SJ 2196-82 地面用硅太阳电池电性能测试方法
SJ 2197-82 地面用标准硅太阳电池的标定
SJ 2199-82 电声器件名词术语
SJ 2206-82 K－21系列反射速调管
SJ 2214.1-82 半导体光敏管测试方法总则
SJ 2214.2-82 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
SJ 2214.3-82 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
SJ 2214.4-82 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2214.5-82 半导体光敏二极管结电容的测试方法
SJ 2214.6-82 半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
SJ 2214.7-82 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
SJ 2214.8-82 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
SJ 2214.9-82 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2214.10-82 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
SJ 2215.1-82 半导体光耦合器测试方法总则
SJ 2215.2-82 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
SJ 2215.3-82 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法
SJ 2215.4-82 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法
SJ 2215.5-82 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
SJ 2215.6-82 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法
SJ 2215.7-82 半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
SJ 2215.8-82 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
SJ 2215.9-82 半导体光耦合器(三极管)反向截止电流的测试方法
SJ 2215.10-82 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
SJ 2215.11-82 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
SJ 2215.12-82 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
SJ 2215.13-82 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
SJ 2215.14-82 半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法
SJ 2216-82 硅光敏二极管
SJ 2217-82 硅光敏三极管
SJ 2218-82 半导体光敏二极管型光耦合器
SJ 2219-82 半导体光敏三极管型光耦合器
SJ 2220-82 半导体达林顿型光耦合器
SJ 2221-82 中、小型系列组合夹具技术要求
SJ 2222-82 中、小型系列组合夹具编号规则
SJ 2223-82 中型系列组合夹具结构要素
SJ 2224-82 小型系列组合夹具结构要素
SJ 2225-82 中型系列组合夹具类型和规格尺寸
SJ 2226-82 小型系列组合夹具类型和规格尺寸
SJ 2232-82 厚膜、薄膜集成电路金属外壳技术条件
SJ 2231-82 厚膜、薄膜集成电路直流稳压电源系列和品种
SJ 2240-82 空气介质片型微调电容器总技术条件
SJ 2240.1-82 CW1和CW1S型空气介质片型微调电容器
SJ 2240.2-82 CW2和CW2S型空气介质片型微调电容器
SJ 2240.3-82 CW3和CW3S型空气介质片型微调电容器
SJ 2240.4-82 CW31型空气介质片型微调电容器
SJ 2240.5-82 CW32型空气介质片型微调电容器
SJ 2240.6-82 CW41和CW41S型空气介质片型微调电容器
SJ 2240.7-82 CW42型空气介质片型微调电容器
SJ 2240.8-82 CW5和CW5S型空气介质片型微调电容器
SJ 2241-82 同心型微调电容器总技术条件
SJ 2241.1-82 CWT2型同心型微调电容器
SJ 2241.2-82 CWT4Y型同心型微调电容器
SJ 2241.3-82 CWT5Y型同心型微调电容器
SJ 2241.4-82 CWT6型同心型微调电容器
SJ 2241.5-82 CWT7L型同心型微调电容器
SJ 2241.6-82 CWT8Z型同心型微调电容器
SJ 2241.7-82 CWT9J型同心型微调电容器
SJ 2242-82 散热器强制风冷热阻测试方法
SJ 2244-82 RX－54型微波气体放电管
SJ 2245-82 RX－7型微波气体放电管
SJ 2246-82 RX202、RX203型微波气体放电管
SJ 2247-82 半导体光电子器件外形尺寸
SJ 2253-82 阴极碳酸盐颗粒度的测定方法
SJ 2254-82 阴极碳酸盐分析方法的一般要求(暂行)
SJ 1286-77 FU－105Z型电子管
SJ 1287-77 FU－101F(Z)型电子管
SJ 1381-78 实验二极管结构与工艺
SJ 1382-78 FU－822Z(F)型电子管
SJ 1383-78 FU－104Z型电子管
SJ 1385-78 噪声二极管和气体放电噪声管总技术条件
SJ 1386-78 噪声二极管和气体放电噪声管测试条件
SJ 1387-78 噪声二极管灯丝电流和灯丝电压的测试方法
SJ 1388-78 噪声二极管阳极电导的测试方法
SJ 1389-78 噪声二极管极间漏电流的测试方法
SJ 1390-78 噪声二极管超噪功率非线性系数的测试方法
SJ 1391-78 噪声二极管冷态电压驻波系数的测试方法
SJ 1392-78 噪声二极管超噪功率的测试方法
SJ 1393-78 气体放电噪声管阴极预热时间的测试方法
SJ 1394-78 气体放电噪声管着火电压的测试方法
SJ 1395-78 气体放电噪声管阳极电流和管压降的测试方法
SJ 1396-78 气体放电噪声管电压驻波系数的测试方法
SJ 1397-78 气体放电噪声管衰减量的测试方法
SJ 1398-78 气体放电噪声管超噪比及其不稳定度的测试方法
SJ 1405-78 3DA1型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1406-78 3DA96型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1407-78 3DA4型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1408-78 3DA101型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1409-78 3DA3型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1410-78 3DA98型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1411-78 3DA5型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1412-78 3DA14型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1413-78 3DA2型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1414-78 3DA102型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1415-78 3DA28型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1416-78 3DA100型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1417-78 3DA103型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1418-78 3DA10型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1419-78 3DA18型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1420-78 3DA104型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1421-78 3DA22型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1422-78 3DA37型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1423-78 3DA32型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1424-78 3DA105型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1425-78 3DA106型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1426-78 3DA21型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1427-78 3DA92型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1428-78 3DA107型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1429-78 3DA108型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1430-78 3DA89型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1431-78 3DA39型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1436-78 CKM－104型脉冲磁控管
SJ 1437-78 CKM－104B型脉冲磁控管
SJ 1438-78 CKM－114型脉冲磁控管
SJ 1439-78 CKM－114B型脉冲磁控管
SJ 1457-79 低速型、中速型通用电子计数器技术条件
SJ 1458-79 电子计数器测试方法
SJ/Z 1463-79 无线电陶瓷材料化学分析方法的一般要求
SJ/Z 1464-79 矿物原料的化学分析方法
SJ/Z 1465-79 陶瓷坯料的化学分析方法
SJ/Z 1466-79 化工原料的化学分析方法
SJ 1468-79 3CG100型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1469-79 3CG101型PNP硅平面高频小功率三极管
SJ 1470-79 3CG102型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1471-79 3CG103型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1472-79 3CG110型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1473-79 3CG111型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1474-79 3CG112型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1475-79 3CG113型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1476-79 3CG114型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1477-79 3CG120型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1478-79 3CG121型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1479-79 3CG122型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1480-79 3CG130型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1481-79 3CG131型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1482-79 3CG132型PNP硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1483-79 3CG140型PNP硅外延平面高频小功率低噪声三极管
SJ 1484-79 3CG160型PNP硅外延平面高频小功率高反压三极管
SJ 1485-79 3CG170型PNP硅外延平面高频小功率高反压三极管
SJ 1486-79 3CG180型PNP硅外延平面高频小功率高反压三极管
SJ 1487-79 反向阻断型高频半导体闸流管
SJ 1488-79 反向阻断型高频半导体闸流管额定高频通态平均电流IT的测试方法
SJ/T 1505-97 旋磁铁氧体材料成品、半成品化学分析方法
SJ 1512-79 扬声器用Φ40～115mm永磁铁氧体磁体尺寸系列
SJ 1515-79 微动开关总技术条件
SJ 1516-79 KW1型微动开关
SJ 1517-79 KW2型微动开关
SJ 1518-79 KW3型微动开关
SJ 1519-79 KW4型微动开关
SJ 1520-79 KW5型微动开关
SJ 1521-79 钮子开关总技术条件
SJ/Z 1526-79 锌银碱性蓄电池系列型谱
SJ 1531-79 金属陶瓷电子管引出环接触直径系列
SJ 1532-79 CKM－55～57系列脉冲磁控管
SJ 1533-79 FU－433S型发射管
SJ 1538-87 电真空器件用镍及镍合金化学成分
SJ 1540-87 电真空器件用镍及镍合金丝
SJ 1541-87 电真空器件用镍及镍合金带
SJ 1539-87 电真空器件用镍及镍合金薄壁管
SJ 1542-87 电真空器件用镍及镍合金化学分析方法
SJ 1543-88 电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法
SJ/Z 1544-79 镍钨镁合金的光谱分析方法
SJ 1545-79 CKM－120型脉冲磁控管
SJ 1546-79 CK－140B型连续波磁控管
SJ 1547-79 CK－141型连续波磁控管
SJ 1549-79 硅外延片(暂行)
SJ 1550-79 硅外延片检测方法
SJ 1551-79 硅外延层电阻率测试方法(电容－电压法)(暂行)
SJ 1554-80 MF51型珠状热敏电阻器
SJ 1555-80 MF52型珠状热敏电阻器
SJ 1558-80 MF41型和MF44型旁热型负温度系数热敏电阻器
SJ 1559-80 稳压型负温度系数热敏电阻器总技术条件
SJ 1560-80 MF21型和MF22型稳压型负温度系数热敏电阻器
SJ 1563-80 实心聚四氟乙烯绝缘同轴射频电缆(暂行)
SJ 1575-80 BB－1A型＂O＂型返波管
SJ 1583-80 玻璃介质微调电容器总技术条件
SJ 1584-80 CWB51型玻璃介质微调电容器
SJ 1585-80 温差发电器型号命名方法
SJ 1587-80 电真空器件用钍钨铼丝
SJ 1590-80 铈钨粉、块、杆中氧化铈的分析方法
SJ 1591-80 电真空器件用钍钨铼丝中氧化钍和铼的分析方法
SJ 1594-80 KZJ1型直键开关
SJ 1595-80 KZJ2型直键开关
SJ 1596-80 XD51－20、40／100，XD51－20、40／125型旋转阳极X射线管
SJ 1598-80 FU－23S(Z)型发射管
SJ 1617-80 CK－603型连续波磁控管
SJ 1618-80 温差发电器名词术语
SJ 1619-80 半导体管电视广播接收机用中频变压器及可调线圈
SJ 1620-80 TM－90型(J)脉冲调制管
SJ 1627-80 CKM－14H型脉冲磁控管
SJ 1628-80 冷冲压零件尺寸公差
SJ 1624-80 微波铁氧体隔离器、环行器总技术条件
SJ 1625-80 微波铁氧体同轴隔离器、环行器
SJ 1626-80 微波铁氧体波导隔离器、环行器
SJ 1632-80 波导元件型号命名方法
SJ/T 1635-96 电子工业管路的基本识别色和识别符号
SJ 1636-80 3DD151型、3DD152型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1637-80 3DD153型、3DD154型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1638-80 3DD155型、3DD156型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1639-80 3DD157型、3DD158型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1640-80 3DD159型、3DD160型、3DD161型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1641-80 3DD162型、3DD163型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1642-80 3DD164型、3DD165型、3DD166型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1643-80 3DD167型、3DD168型、3DD169型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1644-80 3DD170型、3DD171型、3DD172型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1645-80 3DD173型、3DD174型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1646-80 3DD175型、3DD176型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1647-80 3DD253型、3DD254型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1648-80 3DD255型、3DD256型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1649-80 3DD257型、3DD258型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1650-80 3DD259型、3DD260型、3DD261型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1651-80 3DD262型、3DD263型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1652-80 3DD264型、3DD265型、3DD266型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1653-80 3DD267型、3DD268型、3DD269型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1654-80 3DD270型、3DD271型、3DD272型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1655-80 3DD275型、3DD276型NPN硅扩散台面低频大功率三极管
SJ 1657-80 铜垫密封超高真空法兰型式及尺寸系列
SJ 1659-80 铜密封垫型式及尺寸系列
SJ 1661-80 电子工业专用设备热处理技术要求(暂行)
SJ 1666-80 FM－150型电子管
SJ 1667-80 FM－12F型电子管
SJ 1668-80 FM－110、FM－110F型电子管
SJ 1671-80 雷达用低压直流稳压电源技术条件
SJ 1672-80 3DG253型NPN硅正向自动增益控制高频小功率三极管
SJ 1673-80 3DG254型NPN硅正向自动增益控制高频小功率三极管
SJ 1674-80 3DG255型NPN硅图象中放末级三极管
SJ 1682-80 3DA151型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1683-80 3DA152型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1686-80 3DD202型NPN硅低频大功率三极管
SJ 1689-80 3DD205型NPN硅低频大功率三极管
SJ 1690-80 3DD206型NPN硅低频大功率三极管
SJ 1692-80 3DD208型NPN硅低频大功率三极管
SJ 1693-80 3AD150型PNP锗低频大功率三极管
SJ 1676-81 FU－824S(F)型电子管
SJ 1677-80 光纤光缆名词术语
SJ 1678-80 纤维光学连接器名词术语
SJ 1703-81 小功率电子管加速寿命试验方法
SJ 1704-81 功率速调管总技术条件
SJ 1705-81 功率速调管测试条件
SJ 1706-81 功率速调管电子注流通率的测试方法
SJ 1707-81 功率速调管增益的测试方法
SJ 1708-81 功率速调管带宽的测试方法
SJ 1709-81 功率速调管激励功率的测试方法
SJ 1710-81 功率速调管输出功率的测试方法
SJ 1711-81 功率速调管工作频率范围的测试方法
SJ 1712-81 功率速调管频率可重调性的测试方法
SJ 1713-81 功率速调管相移的测试方法
SJ 1714-81 功率速调管互调失真比的测试方法
SJ 1716-81 功率速调管脉冲特性的测试方法
SJ 1717-81 功率速调管脉冲电压的测试方法
SJ 1718-81 功率速调管阴极脉冲电流的测试方法
SJ 1719-81 功率速调管振荡频率的测试方法
SJ 1720-81 功率速调管频谱的测试方法
SJ 1721-81 功率速调管频率温度系数的测试方法
SJ 1722-81 CKM－174～176型脉冲磁控管
SJ 1723-81 RX－32型微波气体放电管
SJ 1724-81 RX－56型微波气体放电管
SJ 1725-81 RX－61型微波气体放电管
SJ 1726-81 RX－109型微波气体放电管
SJ 1735-81 通信电声器件总技术条件
SJ 1738-81 通信用电声组合件电声试验方法
SJ 1739-81 通信电声器件外形尺寸系列
SJ 1741-81 电子设备用非密封电磁继电器系列型谱
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SJ/Z 1792-81 电子工业专用设备电气装配技术要求
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